Тест по диагностике одаренности младших школьников
тест по теме

Тест по диагностике одаренности младших школьников

Составитель: учитель начальных классов МОУ «СОШ №59 с углубленным изучением предметов» первой категории

Елиференко А.М.

В методическом пособии раскрыта практическая диагностика одаренности детей. Указан метод измерения интеллекта для выявления одаренных детей.

Ребенку предлагается серия из десяти постепенно усложняющихся задач одинакового типа: на поиск закономерностей в расположении деталей на матрице (представлена в верхней части указанных рисунков в виде большого четырехугольника) и подбор одного из восьми данных ниже рисунков в качестве недостающей вставки к этой матрице, соответствующей ее рисунку (данная часть матрицы представлена внизу в виде флажков с разными рисунками на них).

         Изучив структуру большой матрицы, ребенок должен указать ту из деталей (тот из восьми имеющихся внизу флажков), которая лучше всего подходит к этой матрице, т.е. соответствует ее рисунку или логике расположения его деталей по вертикали и по горизонтали.

На выполнение всех десяти заданий ребенку отводится 10 минут. По истечении этого времени эксперимент прекращается и определяется количество правильно решенных матриц, а также общая сумма баллов, набранных ребенком за их решения.

Каждая правильно, решенная матрица оценивается в 1 балл. Правильные, решения всех десяти матриц следующие (первая из приводимых ниже пар цифр указывает на номер матрицы, а вторая — на правильный ответ:        1—7,2—6,3—6,4—1,5—2,6—5,7—6, 8-1,9-3,10-5.)

Выводы об уровне развития одаренности: